Seminar Electronics Board Diagnostic & Repair Seminar with demonstration
วัน : พุธที่ 27 มิถุนายน 2561
วัน : พุธที่ 27 มิถุนายน 2561
เวลา : 9:00 - 16:00 น.
สถานที่ : ณ ห้องถาวรอุษา มหาวิทยาลัยธรรมศาสตร์ ศูนย์พัทยา
- ลงทะเบียน 1 ครั้ง ต่อ 1 ท่าน
- ขอสงวนสิทธิรับไม่เกิน 2 ท่าน/องค์กรและรับจำนวนจำกัด
เพื่อเสริมสร้างทักษะทางด้านการวิเคราะห์ตรวจซ่อมแผงวงจรอิเล็กทรอนิกส์และทักษะการใช้เครื่องมือตรวจวัดทางอิเล็กทรอนิกส์ให้กับช่าง หรือวิศวกรในหน่วยงาน เพื่อให้ผู้เข้าร่วมอบรมเรียนรู้การใช้งาน ทั้งภาคทฤษฎีและปฏิบัติกับเครื่องมือจริง ทางบริษัท เมเชอร์โทรนิกซ์ จำกัด ขอเชิญเข้าร่วมอบรมในหัวข้อเรื่อง “Measurement Workshop & Demonstration Electronics Board Diagnostic & Repairing” ซึ่งเป็นคอร์สอบรมภายใต้ลิขสิทธิ์ของ HUNTRON ซึ่งเป็นบริษัทผู้เชี่ยวชาญในงานด้านการตรวจซ่อมวงจรอิเล็กทรอนิกส์ที่ได้รับการยอมรับจากหน่วยงานชั้นนำในประเทศสหรัฐอเมริกามาเป็นเวลากว่า 30 ปี พร้อมทั้งเพิ่มเติมเนื้อหาในเรื่องเครื่องมือวิเคราะห์ปัญหาอุปกรณ์ประเภท Passive รวมถึงเครื่องมือวัดสัญญาณ
คอร์สฝึกอบรมจะครอบคลุมเนื้อหา หลักการวิเคราะห์หาจุดเสียบนแผงวงจรอิเล็กทรอนิกส์ คุณลักษณะเฉพาะของอุปกรณ์ R, L, C, รวมถึงอุปกรณ์ชนิด Semiconductor การใช้ HUNTRON Software Workstation เพื่อใช้ในการเก็บข้อมูลของวงจรอิเล็กทรอนิกส์อย่างเป็นระบบ, การวิเคราะห์หาจุดเสียในแผงวงจรโดยเทคโนโลยีภาพความร้อน, การตรวจวัดและวิเคราะห์สัญญาณทางไฟฟ้าในงานซ่อมบอร์ดอิเล็กทรอนิกส์ด้วย MIXED Domain Oscilloscope ที่รวบรวมฟังก์ชันสำหรับงานตรวจวัด
ผู้เข้าร่วมอบรมจะได้เรียนรู้ควบคู่ไปกับการปฏิบัติงานใช้เครื่องมือวัดจริงของ HUNTRON Tracker 3200S, FLUKE TI, PACE เครื่องบัดกรี-ดูดตะกั่ว, GW INSTEK Mixed Domain Digital Oscilloscope, Multi Function Generator, DC Electronic Load และ Precision LCR Meter
หัวข้อการบรรยาย
9:00 - 10:30 น.
- เครื่องวัดออสซิลโลสโคปแบบดิจิตอล Mixed domain ที่รวบรวมการทำงานแบบมัลติฟังก์ชัน DSO, Spectrum, DMM, AWG และ Logic analyzer
- การทดสอบภาคการทำงานของ DC power supply ด้วยอุปกรณ์ DC electronic load
- เครื่องกำเนิดสัญญาณ Arbitrary แบบ Multifunction
10:45 - 11:00 น.
- โปรแกรมเมเบิล DC power source แบบ Multi range
- เครื่องมือตรวจวัดสำคัญ R, L, C
11:00 - 12:00 น.
- วิเคราะห์หาจุดเสียของบอร์ดวงจรอิเล็กทรอนิกส์ ผ่านคุณลักษณะด้านแรงดันและกระแสไฟฟ้าด้วย VI signature, การปรับระดับแรงดัน, ความต้านทานและความถี่ให้เหมาะสมกับอุปกรณ์
- วิเคราะห์คุณลักษณะเฉพาะของอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์ชนิด Passive linear devices เช่น L, C, R
- วัดและวิเคราะห์คุณลักษณะเฉพาะของอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์ชนิด Non-Linear device อุปกรณ์สารกึ่งตัวนำ Diode, Transistor และ IC
• วิเคราะห์คุณลักษณะเฉพาะของแรงดันและกระแสของวงจรผสมรูปแบบต่าง ๆ
• Live Demo วัดอุปกรณ์จริงกับเครื่อง HUNTRON เปรียบเทียบผลการวัดระหว่างอุปกรณ์ตัวดีกับอุปกรณ์ตัวเสีย
• วิเคราะห์อาการเสียทาง Curve VI ที่อ่านได้
13.00 - 14.00 น.
- การตรวจวัด VI Signature เครื่องมือวัด HUNTRON 3200S และ 2800S และการบันทึกผลอย่างเป็นระบบด้วย Software workstation
13.00 - 14.00 น.
- เทคนิคใหม่ในการวิเคราะห์หาจุดเสียในแผงวงจรโดยเทคโนโลยีภาพความร้อน
14:45 - 15:00 น.
- การรื้อถอนและติดตั้งอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์บนแผงวงจร
• เครื่องมือที่ใช้ในการรื้อถอนบอร์ดอิเล็กทรอนิกส์
• วิธีการ Rework และ Install อุปกรณ์บนบอร์ดอิเล็กทรอนิกส์
15:00 - 16:00 น.
- Demonstration การใช้งานเครื่องมือ โดยแบ่งแยกตาม Station ดังนี้
• Station 1 : ตรวจวัดค้นหาจุดผิดปกติของอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์
• Station 2 : การใช้ PC software ในการเก็บข้อมูลของบอร์ดดีและเปรียบเทียบสัญญาณระหว่างบอร์ดดีและบอร์ดเสีย
• Station 3 : การบัดกรี-ดูดตะกั่ว IC บนแผงวงจรอิเล็กทรอนิกส์
• Station 4 : การใช้งานเครื่องวัดออสซิลโลสโคป Mixed domain
• Station 5 : การทดสอบใช้งาน DC electronic load สำหรับภาคจ่ายไฟ DC หรือ Battery
• Station 6 : ทดสอบการวัดค่า R, L, C ด้วย LCR meter