สัมมนาเชิงวิศวกรรม เทคนิคการวัดเพื่อป้องกันความเสียหายในระบบ High Voltage จาก Partial Discharge

วัน : อังคารที่ 19 พฤษภาคม 2563

เวลา : 9:00 - 16:00 น.

สถานที่ : ณ ห้องสัมมนาชั้น 4 บริษัท เมเชอร์โทรนิกซ์ จำกัด

จำนวนที่รับ : 20 ท่าน/รุ่น

ค่าลงทะเบียน : 2,000 บาท (ไม่รวมภาษีมูลค่าเพิ่ม 7%) ชำระโดยการโอนก่อนการอบรม

ลงทะเบียนผ่านเว็บ 1 ครั้ง/1 ท่าน

หลักการและเหตุผล
ปัญหาความเสียหายที่มีความรุนแรงอันเนื่องมาจากฉนวนในระบบ High Voltage เป็นความเสี่ยงและภัยเงียบที่ซ่อนตัวอยู่ เมื่อถึงเวลาก็สร้างความเสียหายที่มีค่าใช้จ่ายมหาศาลจาก Downtime ปัญหาเหล่านี้ส่วนใหญ่เกิดจากการเสื่อมและความเสียหายของฉนวนในระบบไฟฟ้าแรงสูง แต่เนื่องจากขนาดและจำนวนอุปกรณ์ที่มีอยู่ในระบบเป็นจำนวนมากจึงทำให้ไม่สามารถกำหนดจุดที่มีปัญหาได้

การหยุดความเสียหายที่เกิดขึ้นทำได้โดยการหาตำแหน่งที่เกิดดีสชาร์จบางส่วนให้พบ แล้วจัดการกับความเสียหายก่อนที่จะพัฒนารุกรามใหญ่ขึ้น การที่จะหาให้พบนั้นจำเป็นต้องใช้เข้าใจในส่วนของหลักการที่เกิด และสิ่งที่มันปล่อยออกมาขณะที่เกิดดีสชาร์จบางส่วน โดยในทางปฎิบัติแล้วมีเทคนิคการตรวจวัดที่หลากหลาย ซึ่งก็มีความยากง่ายความชัดเจนที่แตกต่างกัน สุดท้าย กล่าวถึงประสบการณ์การแก้ปัญหาการเกิดดีสชาร์จบางส่วนของอุปกรณ์ไฟฟ้าในลานไกไฟฟ้า

บริษัท เมเชอร์โทรนิกซ์ จำกัด จัดการอบรมเพื่อให้ผู้สนใจทั่วไป ผู้ปฎิบัติงาน และผู้เกี่ยวข้องกับระบบ High Voltage ได้รับความรู้ความเข้าใจ เพื่อนำไปป้องกัน ลดความเสียหาย เพิ่มความปลอดภัยจากปัญหาเรื่อง Partial Discharge ที่จะเกิดขึ้นกับระบบที่ท่านกำลังดูแลอยู่

วัตถุประสงค์ เพื่อให้ผู้อบรมได้เรียนรู้

ความรู้พื้นฐานการเกิด Partial Discharge
หลักการและการตรวจวัดด้วยเครื่องมือวัดแบบต่าง ๆ
แลกเปลี่ยนประสบการณ์การการตรวจและแก้ปัญหาเรื่อง Partial Discharge

กำหนดการ

8.30 – 9.00 น. ลงทะเบียน
9.00 – 10.30 น.

ความรู้พื้นฐานเกี่ยวกับการเกิดดีสชาร์จบางส่วน
ชนิดของการเกิดดีสชาร์จบางส่วน
คำจำกัดความของการเกิดดีสชาร์จบางส่วน
การแปลความหมายของรูปแบบการเกิดดีสชาร์จบางส่วน

โดย รศ.ดร.ธนพงศ์ สุวรรณศรี

10.30 – 10.45 น. พัก
10.45 – 12.00 น.

หลักการตรวจวัดการเกิดดีสชาร์จบางส่วน
เซ็นเซอร์และอุปกรณ์ตรวจวัดการเกิดดีสชาร์จบางส่วน
สัญญาณรบกวนและระบบการวัดดีสชาร์จบางส่วนแบบ Online

โดย รศ.ดร.ธนพงศ์ สุวรรณศรี

12.00 – 13.00 น. พักรับประทานอาหารกลางวัน
13.00 – 14.30 น.

เทคนิคการตรวจวัดดีสชาร์จบางส่วน โดยหลักการวัด Ultrasound Detector
Transient Earth Voltage (TEV)
Electro Magnetic Interference (EMI)
UV Technic

โดย ดร.ธีระวัฒน์ หนูนาค

14.30 – 14.45 น. พัก
14.45 – 16.00 น. ประสบการณ์การแก้ปัญหาการเกิดดีสชาร์จบางส่วน ของอุปกรณ์ไฟฟ้า

วิทยากร

1. รศ.ดร.ธนพงศ์ สุวรรณศรี

หัวหน้าภาควิชา Electrical and Software System Engineering Department
หัวหน้าสาขาวิชา High Voltage Laboratory and Asset Management Centerบัณฑิตวิทยาลัยวิศวกรรมศาสตร์นานาชาติสิรินธรไทย-เยอรมัน
มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าพระนครเหนือ

2. ดร.ธีระวัฒน์ หนูนาค

Product Manager บริษัท เมเชอร์โทรนิกซ์ จำกัด