Polytec Pro.Surf: Large-area Optical Profiler วัด Flatness, Form และ Step Height ของชิ้นงานขนาดใหญ่ด้วยความแม่นยำระดับนาโนเมตร

รหัสสินค้า : Polytec Pro.Surf

฿ 0.00

สินค้าหมด

สอบถามรายละเอียดเพิ่มเติม ติดต่อ : ณัฐพล ปานเอี่ยม โทร. 09-9331-4114

* สินค้ารับประกัน 1 ปี (เฉพาะตัวเครื่อง ไม่รวมถึงสินค้าสิ้นเปลือง) * โปรดตรวจสอบราคาตั้งอีกครั้ง

Polytec Pro.Surf — Large-area Optical Profiler วัด Flatness, Form และ Step Height ของชิ้นงานขนาดใหญ่ด้วยความแม่นยำระดับนาโนเมตร

Pro.Surf คือ family ของ large-area optical profiler สำหรับการวัดและตรวจสอบ form deviation, flatness, parallelism และ step height ของชิ้นงานขนาดใหญ่แบบไม่สัมผัส รวดเร็ว และทำซ้ำได้ ระบบใช้เทคโนโลยี telecentric white-light interferometry ที่ให้ field of view ขนาดใหญ่สุดถึง 44 × 33 มม. ในการสแกนครั้งเดียว รองรับ Z range สูงสุด 70 มม. เพื่อรองรับชิ้นงานที่มีความสูงแตกต่างกัน ตั้งแต่ชิ้นงานผิวเรียบ รูเจาะ และพื้นผิวเว้าลึก ด้วยความละเอียดแนวตั้งต่ำกว่า 1.45 นาโนเมตร

Pro.Surf ออกแบบมาสำหรับสภาพแวดล้อม production QC โดยเฉพาะ ด้วย ECT (Environmental Compensation Technology) แบบ patented ที่ชดเชยการสั่นสะเทือนและเสียงรบกวนจาก shop floor ทำให้วัดได้เสถียรแม้ไม่มีโต๊ะ isolation ราคาแพง และรองรับระบบ automation เต็มรูปแบบผ่าน recipe management, barcode scanner และ motorized stages

ความสามารถที่โดดเด่นของ Pro.Surf Family

Field of view สูงสุด 44 × 33 มม. ต่อการสแกนครั้งเดียว — วัดพื้นที่กว้างหรือหลายชิ้นพร้อมกันได้
Z range สูงสุด 70 มม. — รองรับชิ้นงานที่มีความสูงหลากหลายและรูเจาะลึก
True Stitching — ต่อภาพวัดพื้นที่ขยายได้ถึง 228 × 221 มม. ด้วยความแม่นยำสูง
Telecentric optics — รักษา magnification และ geometry ให้สม่ำเสมอตลอดช่วง Z
ECT Environmental Compensation Technology — วัดได้เสถียรในสภาพแวดล้อม shop floor จริง
SST Smart Scanning Technology — วัดได้ทั้งผิวมัน ผิวมืด และผิวสะท้อนแสงในการตั้งค่าเดียว
Pattern matching — ค้นหาและลงทะเบียนชิ้นงานอัตโนมัติแม้ตำแหน่งจะเปลี่ยน
Automation-ready — recipe system, barcode start, motorized XYZ และ tip/tilt stages

เปรียบเทียบ 3 รุ่นใน Pro.Surf Family

Pro.Surf เป็นรุ่นหลักที่เน้น form และ flatness inspection ด้วย throughput สูง เหมาะสำหรับ production QC ที่ต้องการความเร็วและ cycle time สั้น Pro.Surf+ เพิ่ม integrated chromatic-confocal roughness sensor เข้ามาในระบบเดียวกัน ทำให้วัดได้ทั้ง form และ roughness ในการ setup เดียวโดยไม่ต้องย้ายชิ้นงาน เหมาะสำหรับ QC ที่ต้องการทั้งสองพารามิเตอร์พร้อมกัน ส่วน Metro.Lab เป็นรุ่น compact ที่มี field of view 37 × 28 มม. และ Z range 70 มม. เหมือนกัน แต่ขนาดเล็กกว่า เหมาะสำหรับการสุ่มตรวจในสายการผลิตหรือห้อง QC ที่พื้นที่จำกัด

ตัวอย่างการประยุกต์ใช้

ตรวจสอบ flatness และ parallelism ของชิ้นส่วน precision machining เช่น piston sealing surface และ bearing seat
วัด step height และ form deviation ของ optical component เช่น lens, mirror และ freeform optics
ตรวจสอบ BGA (Ball Grid Array) และ bump height ใน semiconductor packaging
วัด waviness และ flatness ของ hard disk drive (HDD)
ควบคุมคุณภาพ flatness ของชิ้นส่วนยานยนต์ในสายการผลิตแบบ high throughput
วัด form parameters ของชิ้นงานหลายชิ้นพร้อมกันบน tray