Polytec Micro.View - Microscope-based 3D Surface Profiler วัดความหยาบผิวและโทโพกราฟีระดับ sub-nanometer แบบไม่สัมผัส
รหัสสินค้า : Polytec Micro.View
สินค้าหมด
Download Technical Datasheet
สอบถามรายละเอียดเพิ่มเติม ติดต่อ : ณัฐพล ปานเอี่ยม โทร. 09-9331-4114
* สินค้ารับประกัน 1 ปี (เฉพาะตัวเครื่อง ไม่รวมถึงสินค้าสิ้นเปลือง) * โปรดตรวจสอบราคาตั้งอีกครั้ง
Polytec Micro.View — Microscope-based 3D Surface Profiler วัดความหยาบผิวและโทโพกราฟีระดับ sub-nanometer แบบไม่สัมผัส
Micro.View คือ family ของ microscope-based 3D optical profiler สำหรับงาน surface metrology ความละเอียดสูง ทั้งในห้องปฏิบัติการวิจัยและในสภาพแวดล้อมการผลิต ระบบใช้เทคโนโลยี CSI (Coherence Scanning Interferometry) ร่วมกับ optical microscope ทำให้วัดความหยาบผิว รูปทรง microstructure และพารามิเตอร์ผิวได้ครบตามมาตรฐาน ISO 25178 และ ISO 21920 ด้วยความละเอียดแนวตั้งถึง 0.01 นาโนเมตร บนผิวที่หลากหลาย ทั้งผิวเรียบ ผิวหยาบ ผิวสะท้อนแสง ผิวดำ ผิวโปร่งใส และผิวที่มีวัสดุผสมกัน โดยไม่ต้องสัมผัสชิ้นงาน
Micro.View มี 2 รุ่นให้เลือกตามความต้องการ และรองรับ objective กำลังขยาย 0.6x ถึง 111x รวมถึงมีตัวเลือก ECT (Environmental Compensation Technology) แบบ patented ที่ช่วยให้วัดได้เสถียรแม้มีการสั่นสะเทือนในสภาพแวดล้อมการผลิตจริง
ความสามารถที่โดดเด่นของ Micro.View Family
- ความละเอียดแนวตั้ง 0.01 นาโนเมตร — แม่นยำสูงสุดสำหรับงาน precision surface metrology
- CSI Coherence Scanning Interferometry — วัดได้ทั้งผิวเรียบและผิวหยาบในระบบเดียว
- True Stitching — ต่อภาพวัดพื้นที่กว้างได้อย่างแม่นยำโดยไม่สูญเสียความละเอียด
- CST Continuous Scanning Technology — Z travel range สูงสุด 100 มม. ด้วยความละเอียดเต็มตลอดช่วง
- ECT Environmental Compensation Technology — ชดเชยการสั่นสะเทือนจากสภาพแวดล้อมได้ (patented)
- รองรับ objective ตั้งแต่ 0.6x ถึง 111x รวมถึง long working distance options
- ได้มาตรฐาน ISO 25178 และ ISO 21920 — รองรับ traceability ของผลวัด
เปรียบเทียบ Micro.View vs Micro.View+
Micro.View เป็นระบบ compact table-top ที่เน้นความแม่นยำสูงสุดสำหรับงาน R&D และ precision inspection ทั่วไป รองรับชิ้นงานสูงสุด 100 มม. ปรับตั้งค่าได้ยืดหยุ่น เหมาะสำหรับ lab ที่ต้องการความแม่นยำระดับสูงในราคาที่คุ้มค่า ส่วน Micro.View+ เพิ่ม Color View สำหรับการ visualize สีของผิวและการตรวจจับ defect ตารางที่ motorized เต็มระบบพร้อม Focus Tracker รองรับชิ้นงานสูงถึง 370 มม. และ QC recipe management สำหรับการวัดแบบ automated ที่ไม่ต้องมีผู้ดูแลตลอดเวลา เหมาะสำหรับงาน production QC ที่ต้องการ throughput สูง
ตัวอย่างการประยุกต์ใช้
- วัดความหยาบผิว (Ra, Sa, Sq) ของชิ้นส่วน precision machining และ optical components
- ตรวจสอบ step height, flatness และ parallelism ของ semiconductor wafer และ MEMS
- วิเคราะห์ microstructure ของชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์และ diffractive optical element (DOE)
- งานวิจัย tribology — วิเคราะห์การสึกหรอและ wear pattern ของผิวสัมผัส
- ควบคุมคุณภาพผิวในกระบวนการผลิต precision engineering และ optics
