LCR Elite1 เครื่องวัด LCR แบบคีบอุปกรณ์ SMD

วารสาร Semiconductor Electronics ฉบับที่ 421 เดือนพฤศจิกายน 2558

วารสาร Semiconductor Electronics ฉบับที่ 421 เดือนพฤศจิกายน 2558

Download Cover Story

LCR Elite1 เครื่องวัด LCR แบบคีบอุปกรณ์ SMD

  • ขนาดเล็กกะทัดรัด ใช้งานง่าย
  • ด้วยฟังก์ชัน Automatics เพียงคีบจับอุปกรณ์ SMD ก็รู้ได้ทันที่ว่าเป็นตัวอะไร ค่าเท่าไร ดี หรือเสีย (เมื่อวัดอุปกรณ์เดี่ยว)
  • เหมาะสำหรับงานแล็บ R&D,
  • งานตรวจสอบในสายการผลิต,
  • และงานตรวจซ่อมแผงวงจรอิเล็กทรอนิกส์สมัยใหม่ (แสดงอิมพิแดนซ์รวมเมื่อวัดในวงจร)
  • ผลิตภัณฑ์จากแคนาดา ในราคาไม่แพง

GW Instek GOM-804/805
ดีซีมิลลิโอห์มิเตอร์ความเที่ยงตรงสูง สำหรับระบบงานอัตโนมัติ

GW Instek PSB1000 Series
แหล่งจ่ายไฟฟ้า DC โปรแกรมได้ สำหรับงาน LAB, QC, R&D, ATS